XTD自主研發(fā)及加工工藝，穩(wěn)定的測試性能和使用壽命，
頻寬： > 60GHZ @-1db，出色的高頻高速性能
電阻： 50mΩ （可調(diào)整阻抗設計）
適用于間距： 0.4mm-1.27mm
測試行程：0.3mm -0.65mm
探針壽命： 300萬-800萬次（因測試條件不同結(jié)果不同）
彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin
工作溫度： -55~ 155度（支持三溫測試）
適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封裝
適用于：射頻開關,濾波器,放大器,衰減器,巴倫,射頻微波器件。
適用于手測、機測等，多種測試
探針可更換，維修方便，成本低
測試插座及座頭材料： AL，全金屬殼體，擁有優(yōu)秀的散熱和信號屏蔽性能，
探針類型： 特殊探針（添加屏蔽層）
XTD自主研發(fā)及加工工藝，穩(wěn)定的測試性能和使用壽命，
頻寬： > 60GHZ @-1db，出色的高頻高速性能
電阻： 50mΩ （可調(diào)整阻抗設計）
適用于間距： 0.4mm-1.27mm
測試行程：0.3mm -0.65mm
探針壽命： 300萬-800萬次（因測試條件不同結(jié)果不同）
彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin
工作溫度： -55~ 155度（支持三溫測試）
適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封裝
適用于：射頻開關,濾波器,放大器,衰減器,巴倫,射頻微波器件。
適用于手測、機測等，多種測試
探針可更換，維修方便，成本低
測試插座及座頭材料： AL，全金屬殼體，擁有優(yōu)秀的散熱和信號屏蔽性能，
探針類型： 特殊探針（添加屏蔽層）
XTD自主研發(fā)及加工工藝，穩(wěn)定的測試性能和使用壽命，
頻寬： > 60GHZ @-1db，出色的高頻高速性能
電阻： 50mΩ （可調(diào)整阻抗設計）
適用于間距： 0.4mm-1.27mm
測試行程：0.3mm -0.65mm
探針壽命： 300萬-800萬次（因測試條件不同結(jié)果不同）
彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin
工作溫度： -55~ 155度（支持三溫測試）
適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封裝
適用于：射頻開關,濾波器,放大器,衰減器,巴倫,射頻微波器件。
適用于手測、機測等，多種測試
探針可更換，維修方便，成本低
測試插座及座頭材料： AL，全金屬殼體，擁有優(yōu)秀的散熱和信號屏蔽性能，
探針類型： 特殊探針（添加屏蔽層）
