適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗(yàn)證，測(cè)試. 老化
壓蓋式設(shè)計(jì)供雙扣手工或自動(dòng)加載或卸載機(jī)構(gòu)
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸規(guī)格DFN.QFN(1*1-8*8)
機(jī)械性能
測(cè)試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：10萬(wàn)次（開(kāi)爾文探針壽命：30W次）
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬： > 20GHZ @-1db
適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗(yàn)證，測(cè)試. 老化
壓蓋式設(shè)計(jì)供雙扣手工或自動(dòng)加載或卸載機(jī)構(gòu)
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸規(guī)格DFN.QFN(1*1-8*8)
機(jī)械性能
測(cè)試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：10萬(wàn)次（開(kāi)爾文探針壽命：30W次）
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬： > 20GHZ @-1db
適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗(yàn)證，測(cè)試. 老化
壓蓋式設(shè)計(jì)供雙扣手工或自動(dòng)加載或卸載機(jī)構(gòu)
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸規(guī)格DFN.QFN(1*1-8*8)
機(jī)械性能
測(cè)試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：10萬(wàn)次（開(kāi)爾文探針壽命：30W次）
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬： > 20GHZ @-1db
