今天小編給大家簡(jiǎn)單介紹一下開(kāi)爾文測(cè)試座，感興趣的朋友一起往下看吧。

開(kāi)爾文測(cè)試座用于開(kāi)爾文四線(xiàn)檢測(cè)（四端子檢測(cè)、四線(xiàn)檢測(cè)、4點(diǎn)探針?lè)?/span>），用于芯片的快速驗(yàn)證、測(cè)試、老化，適用于SOP封裝的模擬電路測(cè)試，適用SOP、PSOP、QSOP、SSOP、TSSOP等封裝檢測(cè)等，工作溫度為-40至140度，適用于間距0.4mm-1.27mm的產(chǎn)品，其壽命30萬(wàn)次以上。

開(kāi)爾文測(cè)試座用于SOP封裝的模擬電路測(cè)試，電流測(cè)試值更準(zhǔn)確。SOP封裝的每個(gè)針腳均為２點(diǎn)接觸，可以根據(jù)客戶(hù)的要求設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)接模組，根據(jù)客戶(hù)的需求，也可以定制PCB板配套出售。其他封裝，如QFN或DFN也可以定制開(kāi)爾文測(cè)試座。

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