老化座具有壽命長(zhǎng)、測(cè)試穩(wěn)定、交期快的特點(diǎn)，可以提供彈片/探針，支持有球、無(wú)球測(cè)試，可以更換限位框、適用于各種間距的芯片檢測(cè)、支持任何形態(tài)的錫球檢測(cè)。但在使用時(shí)，需要注意：

1、溫度一般控制在125℃-150℃在范圍內(nèi)。老化試驗(yàn)是封裝后的加速壽命測(cè)試，主要包括高溫條件下的電壓、電流測(cè)試，時(shí)序特性測(cè)試以及功能測(cè)試。

2、為了避免芯片試驗(yàn)過(guò)程中的重復(fù)焊接，有必要根據(jù)芯片的封裝類型專門設(shè)計(jì)測(cè)試插座，并在測(cè)試座安裝在電路板上進(jìn)行生產(chǎn)試驗(yàn)。每個(gè)測(cè)試電路板上可以排列幾十個(gè)甚至數(shù)百個(gè)測(cè)試座。

3、測(cè)試座下面頂針構(gòu)成的陣列與芯片的封裝類型需匹配，在測(cè)試過(guò)程中，由自動(dòng)機(jī)械手將芯片放入測(cè)試座中進(jìn)行測(cè)試。

以上內(nèi)容就是使用老化座時(shí)需要注意的事項(xiàng)的相關(guān)介紹，需要老化座的朋友，歡迎前來(lái)咨詢。