芯片測試行業(yè)一直被認為是芯片密封測試的一部分。縱觀國內(nèi)芯片行業(yè)的整體情況，傳統(tǒng)的綜合封裝測試企業(yè)無法滿足當前的需求。今天小編從以下幾個方面給大家簡單介紹一下QFN40L-5x5測試座。

1、QFN40L-5x5測試座適用范圍：

適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝，用于芯片的快速驗證、測試、老化，壓蓋式設計供雙扣手工或自動加載或卸載機構(gòu)，適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸規(guī)格DFN.QFN(1*1-8*8)

2、QFN40L-5x5測試座的機械性能：

測試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座頭材料：AL，Cu，POM

探針類型：彈簧探針

工作溫度：-40 ~ 140度

探針壽命：10萬次（開爾文探針壽命：30W次）

彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin

3、QFN40L-5*5測試座的電性能

電流：2A （單PIN支持1A）

電阻：50mΩ

頻寬： > 20GHZ @-1db

以上就是QFN40L-5x5測試座的相關介紹，希望對大家進一步了解芯片測試座有所幫助，有需要芯片測試座的朋友可以直接聯(lián)系咨詢我們哦~